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簡(jiǎn)要描述:Keithley 4200A-SCS半導(dǎo)體參數(shù)分析儀使用 4200A-SCS參數(shù)分析儀(參數(shù)測(cè)試儀)加快各類材料、半導(dǎo)體器件和*工藝的開發(fā),完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能領(lǐng)xian電學(xué)特性參數(shù)分析儀,提供同步電流電壓曲線測(cè)試 (I-V曲線測(cè)試)、電容-電壓曲線測(cè)試 (C-V曲線測(cè)試) 和超快脈沖 I-V曲線測(cè)量。
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推進(jìn)大膽發(fā)現(xiàn)從未如此容易。4200A-SCS 參數(shù)分析儀從設(shè)置到運(yùn)行檢定測(cè)試的時(shí)間減少高達(dá) 50%,從而實(shí)現(xiàn)無yu倫比的測(cè)量和分析能力。此外,嵌入式測(cè)量專業(yè)知識(shí)提供無yu倫比的測(cè)試指導(dǎo),并讓您對(duì)最終結(jié)果充滿信息。
特點(diǎn)
Keithley 4200A-SCS半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
用于 DC IV、CV 和脈沖 IV 測(cè)量類型的高級(jí)測(cè)量硬件
立即使用 Clarius 軟件中所含的數(shù)百種用戶可修改應(yīng)用程序測(cè)試開始測(cè)試
自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)
使用吉時(shí)利新的電容-電壓?jiǎn)卧?(CVU) 4215-CVU 測(cè)量一位數(shù)飛法。通過將 1 V AC 電源集成到吉時(shí)利行業(yè)領(lǐng)xian的 CVU 架構(gòu)中,4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的頻率下進(jìn)行低噪聲電容測(cè)量。
特點(diǎn)
同類產(chǎn)品中首kuan能夠驅(qū)動(dòng)1 V AC 電源電壓的 CV 表
1 kHz 頻率,分辨率從1 kHz 到 10 MHz
測(cè)量電容、電導(dǎo)和導(dǎo)納
使用 4200A-CVIV 多路開關(guān)最多可測(cè)量四個(gè)通道
使用 4215-CVU 進(jìn)行 Femtofarad (1e-15F) 電容測(cè)量
4200A-CVIV 多通道切換模塊自動(dòng)在 I-V 和 C-V 測(cè)量之間切換,無需重新布線或抬起探頭端部。 與競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品不同,四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看,可快速完成測(cè)試設(shè)置,并在出現(xiàn)意想不到的結(jié)果時(shí)輕松排除故障。
特點(diǎn)
無需重新布線即可將 C-V 測(cè)量移動(dòng)到任何設(shè)備終端
用戶可配置低電流功能
個(gè)性化輸出通道名稱
查看實(shí)時(shí)測(cè)試狀態(tài)
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊,您可以在高電容系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的低電流測(cè)量。4200A-SCS 有四種型號(hào)的源測(cè)量單位 (SMU) 可供選擇,可通過定制滿足您所有的 I-V 測(cè)量需求。通過提供現(xiàn)場(chǎng)可安裝單元和可選的預(yù)放大器模塊,Keithley 可確保您獲得最準(zhǔn)確的低電流測(cè)量,而停機(jī)時(shí)間很少甚至沒有。
特點(diǎn)
不必將儀器送回工廠即可增加 SMU
進(jìn)行 飛安測(cè)量
多達(dá) 9 個(gè) SMU 通道
針對(duì)長(zhǎng)電纜或大卡盤進(jìn)行了優(yōu)化
4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動(dòng)和半自動(dòng)晶片探測(cè)器和低溫控制器,包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。
特點(diǎn)
“點(diǎn)擊"測(cè)試定序
“手動(dòng)"探測(cè)器模式測(cè)試探測(cè)器功能
假探測(cè)器模式無需移除命令即可實(shí)現(xiàn)調(diào)試
吉時(shí)利保障計(jì)劃以按需服務(wù)事件的一小部分成本提供快速、高質(zhì)量的服務(wù)。 只需點(diǎn)擊一下或一個(gè)電話即可獲得維修服務(wù),在此過程中,無需報(bào)價(jià)或填寫采購(gòu)單,也不會(huì)有審批延誤。
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